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    IC器件測試插座

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    GU41-10B320-T200 IC器件測試插座(高頻測試插座)GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距),適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座。

    產(chǎn)品型號:GU41-10B320-T200
    更新時(shí)間:2024-03-12
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    訪(fǎng)問(wèn)量:954
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    品牌其他品牌應用領(lǐng)域電子

    GU41-10B320-T200

          IC器件測試插座示意圖

          IC器件測試插座、高頻測試插座

      GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
      適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座
      1.0mm/0.039“間距18x18觸點(diǎn)最大值
      -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時(shí)間
      短-溫度范圍(典型值)
      -40至+150℃(典型值)


      [可接受的器件]
      FTGB196(賽靈思)
      256針FBGA(英特爾)
      FT256/FTG256(賽靈思)
      FG256/FGG256(賽靈思)
      FG320/FGG320(賽靈思)


      [可接受的器件]
      FTGB196(賽靈思)
      256針FBGA(英特爾)
      FT256/FTG256(賽靈思)
      FG256/FGG256(賽靈思)
      FG320/FGG320(賽靈思)


      GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
      適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座
      1.0mm/0.039“間距18x18觸點(diǎn)最大值
      -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時(shí)間
      短-溫度范圍(典型值)
      -40至+150℃(典型值)

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